シンポジウム

オペランド計測の最新動向と次世代の方向性

プログラムおよび招待講演者

10月14日(木) 9:00- 12:00, A会場 (Zoom) 
9:00 - 9:20
       シンポジウム「オペランド計測の最新動向と次世代の方向性」趣旨説明
  赤木 浩(JST-CRDS)
9:20 - 9:55
       オペランド三次元XAFS分光イメージングによる固体触媒の構造・機能の可視化 (AII-01)
  唯 美津木(名古屋大学)
9:55 - 10:30
       各種分光測定を用いたリチウムイオン電池材料の分析・評価 (AII-02)
  青木 靖仁(東レリサーチセンター)
(10:30 - 10:50 休憩) 
10:50 - 11:25
       ケルビンプローブフォース顕微鏡によるオペランド電位計測技術 (AII-03)
  石田 暢之(物質・材料研究機構)
11:25 - 12:00
       ラマン散乱顕微鏡とデータ科学 (AII-04)
  藤田 克昌(大阪大学)