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平成１６年度 日本分光学会シンポジウムのお知らせ「蛍光Ｘ線分光シンポジウム」
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| 環境計測の中における分光学的手法を用いた機器分析は益々盛んになってきております。従来は環境中から試料をサンプリングして、時間をかけ、ラボで分析したものです。近年環境の法規制や製造業を中心に展開されているグリーン調達の観点から迅速、非破壊、その場分析の要望が強く叫ばれるようになってまいりました。その中で、蛍光Ｘ線分析は各国での環境規制の法制化の中でも注目されています。特に欧州におけるＷＥＥＥ，ＲoＨＳ（電気電子機器に含まれる特定有害物質の使用制限に関する指令）では蛍光Ｘ線分析法の役割は大変重要です。本学会は古くて新しいこの蛍光Ｘ線分析法について分光分析の見地から改めてスポットを当てたシンポジウムを企画しました。各講師の方々にはさまざまな角度から環境計測の中における蛍光Ｘ線分光法の位置付けと可能性について講演いただきます。あわせてメーカーからの装置紹介も行います。環境に携わっている分析技術者だけでなく環境マネージメント、アカデミアからの広いご参加をお待ちしております。 | ||||||||||||||||||||||
プログラム
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