| 主 催 |
日本分析化学会 Ｘ線分析研究懇談会 |
| 共 催 |
日本化学会ほか |
| 協 賛 |
日本分光学会ほか |
| 会 期 |
2008年10月18日（土）・19日（日） |
| 会 場 |
日本女子大学 新泉山館 1F
文京区目白台2-8-1
電話：03-5981-3665
交通：JR山手線目白駅から徒歩15分、バス5分、東京メトロ有楽町線護国寺駅（4番出口）から徒歩10分。
詳細はホームページ参照。
http://www.jwu.ac.jp/map/index.html |
討論主題 |
| （1） |
「現場」で活きるＸ線分析：in-situ、in-vivo、顕微Ｘ線分析など |
| （2） |
マテリアルのＸ線分析 |
| （3） |
溶液、界面、表面のＸ線分析 |
| （4） |
Ｘ線要素技術の新展開： Ｘ線源、光学素子、検出器など |
| （5） |
その他、Ｘ線を利用した分析一般 |
講演申込要項、申込方法、その他詳細は以下の討論会ホームページをご覧ください。
http://mcm-www.jwu.ac.jp/~hayashih/X44/x44.htm |
| 講演申込締切日 |
7月18日(金)【必着】(学会誌へのプログラム掲載のため厳守) |
| 講演要旨締切日 |
9月12日(金)【必着】 |
| 予約登録締切日 |
10月8日(水)【必着】 |
講演申込先・
要旨原稿送付先 |
〒141-0031 東京都品川区西五反田1-26-2五反田サンハイツ 304号
社団法人日本分析化学会 Ｘ線分析研究懇談会
電話：03-3490-3351，FAX：03-3490-3572，E-mail：hm_tanaka＠jsac.or.jp |
| 問合せ先 |
日本女子大学理学部物質生物科学科 林 久史
（電話・FAX： 03-5981-3665，E-mail：hayashih＠fc.jwu.ac.jp） |