(公社)日本表面科学会主催
第65回表面科学基礎講座～表面・界面分析の基礎と応用～

表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術的研究はもとより、産業界における研究開発や品質評価などに盛んに利用されています。本講座は、表面・界面分析の初心者、若手研究者、技術者を対象として、表面・界面分析の基礎と応用を入門的かつ具体例を豊富に挙げて解説することを目的としています。また、内容の理解をたすけるために、各講演で演習問題の解説を行う予定にしております。

各講演の内容など企画の詳細につきましては、ホームページをご覧下さい。
http://www.sssj.org/jpn/activities/04/detail.php?eid=00016

★新しく表面科学・表面分析を始める技術者や学生の皆さんの"新人研修"として、あるいは技術者、研究者の皆さんが表面分析法の"基礎を見直す機会"としても、ご活用下さい。
日時 2018年6月26日（火）〜28日（木）
場所 東京理科大学　神楽坂キャンパス　1号館17階記念講堂
（東京都新宿区神楽坂1-3)　最寄：JR飯田橋駅ほか
主催 公益社団法人 日本表面科学会
申込締切、申込方法 2018年6月20日（水）までに、上記webサイトから
問い合わせ先 日本表面科学会事務局：shomu＠sssj.org
プログラム 6月26日(火)
表面・界面分析概論
野副尚一（シエンタオミクロン）

真空技術基礎
大岩烈（シエンタオミクロン）

Ｘ線光電子分光法（XPS）　　　　 　
中村誠（富士通研）

薄膜X線測定法（XRD/XRR）　　　 　
稲葉克彦（リガク）

放射光表面構造解析　　　　　　　　
近藤寛（慶応大）

6月27日(水)
SPMの基礎と応用 　　　　　　
中嶋健（東工大）

測定データの取り扱いの基礎　　　 　
太田英二（慶応大（名誉教授））

二次イオン質量分析法(スタティックSIMS)
竹野文人 (パナソニック)

走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ（SEM/EPMA）
林広司（島津）

透過電子顕微鏡（TEM/STEM/EDS/EELS）
保田英洋（大阪大）

6月28日(木)
表面における赤外分光法、ラマン分光法
石橋孝章（筑波大）

表面の特性基礎
木口学（東工大）

イオンプローブ基礎
笹川薫（コベルコ科研）

界面分析としての電気化学測定基礎
増田 卓也（物材機構）

DLTS（Deep Level Transient Spevtyoscopy）法を中心とした電気計測による界面評価
徳田豊　（愛知工業大）