表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術的研究はもとより、産業界における研究開発や品質管理などに盛んに利用されています。本講座は、表面・界面分析の初心者、若手研究者、技術者を対象として、表面・界面分析の基礎と応用を入門的かつ具体例を豊富に挙げて解説することを目的として、年2回（関東地区および関西地区）実施しています。また、内容の理解をたすけるために、各講演で演習を行う予定にしております。各講演の概要はホームページをご覧ください。表面科学基礎講座へ多数の方々の参加をお待ちしております。

プログラム

10月17日（火）
9:15 ～9:20 　　　　開会あいさつ
9:20 ～10:50　 　　表面・界面分析概論、真空技術基礎　　　　　 大門　寛（奈良先端大）
11:00 ～12:20 　　走査プローブ顕微鏡(SPM) 　 　　　　　　菅原　康弘（大阪大）
12:20 ～13:20 　　（昼食）放射光を利用した表面分析相談（パネル）
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　吉井　賢資（日本原子力研究開発機構）
13:20 ～14:40 　　走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ(SEM/ EPMA)
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　林　広司（島津製作所）
14:50 ～16:20 　　イオンプローブ基礎　　　　 中嶋　薫（京都大）
16:30 ～17:40 　　二次イオン質量分析法(S-SIMS)　　　　　竹野　文人（パナソニック）

10月18日（水）
9:30 ～11:00 　　　　透過電子顕微鏡(TEM, STEM, EDS, EELS) 　　　　保田　英洋（大阪大）
11:10 ～12:30 　　Ｘ線光電子分光法(XPS) 　　　　 中村　誠（富士通研）
12:30 ～13:30 　　（昼食）
13:30 ～14:50 　　赤外分光法、ラマン分光法 松田　景子（東レリサーチセンター）
15:00 ～16:20 　　界面分析としての電気化学測定基礎 野口　秀典（物材機構）
16:30 ～17:40 　　DLTS(Deep Level Transient Spectroscopy) 法を中心とした電気計測による界面評価
　　 　　 　　 　　 　　 　　 　　 　　 　　 　　 　　 　　 　　 　　岡田　廣（ｾﾗﾐｯｸﾌｫｰﾗﾑ）
17:40～ 修了証書授与

※放射光利用分析の相談　　10/17（火）昼休み
　放射光実験施設紹介と放射光利用分析に対する相談にお答えします。　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（吉井　賢資（原子力機構））
※第7回もしくは第8回の『社会人のための表面科学ベーシック講座』受講者は割引制度を適用します。
※詳細はURL（http://www.sssj.org/）をご参照ください。