日本分光学会の赤外ラマン部会では12月2日(金)に，｢pMAIRS法： 非平滑・非晶質デバイス薄膜の構造解析の革新」と題し，pMAIRS法として初のワークショップを開催いたします。

pMAIRS法は，薄膜の構造解析に強力な新手法で，FT-IRの分子情報量の豊富さ，測定精度，測定感度を最大限に引き出すことのできるものです。pMAIRS法は，一つの薄膜試料の測定から，各遷移モーメントの面内および面外成分をとらえたIPおよびOPスペクトルを同時に測定できるところに特徴があり，スピンコート法やドロップキャスト法で作製した「非平滑」な薄膜や,「非晶質」の薄膜であっても官能基ごとに分子配向を定量的に決められるところに大きなメリットがあります。

本セミナーは，pMAIRS法の原理の説明から，最新の発展した解析能力までをお示しします。また，pMAIRS法を使って研究を展開されている研究者を，デバイス，高分子，材料開発といった異なる分野で揃え，振動分光法の強力な解析能力もご理解いただける構成になっています。表面吸着種や薄膜の分子配向解析に新しい道を開くpMAIRS法を理解する，良い機会にしていただければ幸いです。