| 主 催 |
日本表面科学会 |
| 協 賛 |
日本分光学会ほか |
| 期 日 |
2013年7月9日(火)〜11日(木) |
| 会 場 |
東京理科大学 森戸記念館 第一フォーラム
東京都新宿区神楽坂4-2-2 TEL03-5228-8110 |
| プログラム |
第１日（７月９日）
- 表面・界面分析概論 （中央大）野副尚一
- SPMの基礎 （筑波大）重川秀実
- SPMの応用 （東北大）中嶋健
- 走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ(SEM/EPMA) （島津）林広司 ほか
第２日（７月１０日）
- 表面の特性基礎 （東工大）木口学
- 電子線回折法(RHEED/LEED) (大同大）堀尾吉巳
- 放射光表面構造解析 （慶応大）近藤寛
- 測定データ取扱いの基礎 (慶応大) 太田英二 ほか
第３日（７月１１日）
- 真空技術基礎 （オミクロン ナノテクノロジー） 大岩烈
- 紫外光電子分光(UPS) （高エネ研）組頭広志
- Ｘ線光電子分光法(XPS) （富士通研）中村誠
- オージェ電子分光法(AES) （物材機構）岩井秀夫 ほか
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| 受 講 料 |
協賛学協会会員：40,000円，
学生：10,000円 |
| 申込締切 |
6月25日（火）
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| 定 員 |
100名（申込先着順締切） |
| 申込及び問合せ先 |
日本表面科学会 TEL：03-3812-0266
〒113-0033東京都文京区本郷2-40-13本郷コーポレイション402
E-mail：shomu@sssj.org URL：http://www.sssj.org
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